待测矿物各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例计量显微镜

待测矿物各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例计量显微镜

  矿石中待测矿物颗粒尽管呈不等粒产出，但当各大小粒级的颗粒皆按一定比例均匀嵌布地矿石的各部分中时，随意测量少数矿石光片中待测矿物的粒度特性，也可代表矿石中该矿物的嵌布粒度，可是这样的情况并不普遍。
  通常待测矿物的各粒级颗粒在不同矿石中的含量比例并不一致，所以取不同矿石光片所测得的矿物粒度情况将各不相同，因此粒度测量时选取具有足够代表性的矿石样品是极为重要的工作，对不具粒度代表性的矿石样品进行任何精确的粒度测量也将是徒劳，因为我们所需要了解的是矿石整体中某种或某几种矿物的嵌布粒度特性，而不是某块矿石中的矿物粒度情况，对粒度嵌布不均匀的矿石，若使测量的结果与矿石的整体情况相近似，就需要进行多块矿石的测量工作，可是供显微镜下测量粒度用的矿石光片数量却不可能太多，因此就必须通过分类加权取样或碎矿拌均缩分的方法来选取测量样品，即选取具有粒度代表性可供定量测量用的样品。