材料与被测零件或部件的基材的特征分析显微镜

材料与被测零件或部件的基材的特征分析显微镜

校准试样精度的检验
零位校准用试样(无涂层的基材)；
　　材料应与被测零件或部件的基材的特性相同样中获得的仪器响应与从工件基材中获得的仪器响应进行比较，从而确定两者的特性是否一致。材料的特性也可用冶金的和物理的方法来检验。校准箔片校准箔片通过检验，以保证箔片具有与被测材料相同的特性和仪器响应。切实可行的检验箔片厚度的方法是用显微镜来测餐。

有涂层的校准试样
　　试样的基材和涂层均需检验，以确保它们具有与被测材料有相同的特性和仪器响应。涂层的厚度，则可用下列的方法之一作适当的检验。
    (1)　　用物理方法测量。实用的方法是，将试样的部分涂层留下，而其余的部位则作为无涂层的基材，然后用显微镜或千分表分别测量有涂层和无涂层部分的尺寸，求出差值，从而得到涂层的厚度。为了获得涂层厚度的平均值，建议在每个部位作多次测量。应该注意，如果校准试样的尺寸是均匀一致的，则表明检验方法是有效的。
    (2)　　校准试样有机金属物的测定，可用部分截面解剖法。如果无法实施，则可磨光此试样的边缘(在后面的情况中，测得的厚度不能作为整个试样的代表值)。涂层厚度由具有刻度分度镜的光学测量仪器确定。