显微镜的物镜分析晶体光学图象相比照的实验

显微镜的物镜分析晶体光学图象相比照的实验
电子探针分析
　　在真空中一个固体靶被一个电子束所轰击时，就会发射出X辐射线。这种X射线包括一个连续的本底以及代表靶组成元素的谱线，而谱线的强度又与发射这些谱线的元素的含量有着相互关系。然后，分析各种不同谱线，也就是利用分光计将各种谱线分开，进行分析。
　　将一个可变的自动倾斜三极型电子枪所产生的电子束，用两个电磁透镜聚焦到所研究的断面上。调整电子强度，就可以减少电子枪发射时可能发生的波动造成的影响。试样有一个用金刚石抛光的断面，用真空蒸镀的镍膜使其表面具有导电性。用一架显微镜观察靶上面电子的轰击点，该显微镜的物镜必须允许电子束和光束能同轴聚焦。配置于柱体两侧的小室，容纳有弯曲晶体光谱仪以及与它们相联接的气流正比计数器。这些光谱仪能测定出化学元素周期表中除前四种以外的各种元素的辐射谱线。
　　把分析晶体与探测器移到聚焦圆与轰击点相交的位置上．就可以对靶进行定性分析。将光谱仪央紧在某一合适位置上，再将进行研究的试样所发射的辐射线强度与标准样品的辐射线强度作比较，就可以完成定量分析。
　　同样可能利用示波器描绘出某一元素的分布图象：电子束扫描试样的一个微小区域，该电于束则与示波器上的亮点互相同步，而后者的亮度则由计数器信号调制。与试样所吸收的电子数成正比例的信号，如果调制蓿示波器电子束的强度，就可以形成电予㈥象，也就是一种可与光学图象相比照的实验资料。但是在这种电子图象中，可以从两相平均原子数的波动来说明两相之间的差异。