金属杂质瓷材料组分制样生产抽样检测显微镜

  作者:厂家库小编CJK    2020-03-07    阅读:972

过金属杂质瓷材料组分制样生产抽样检测显微镜
    一般来说大多是通过金属杂质原子起作用,例如高价金属原子替位,低价金属原子替位,金属原子填隙,但有时也通过非金属原子起作用,例如氟原子对氧原子的替位,氯原子对硫原子的替位等,所有这些作用都可能形成不同能位的施主能级或受主能级,面杂质原子不仅来自于配料时人为的掺加的杂质,也来自于原料不纯所带来的杂质,而不同施主和受主之间又会产生互相补偿的作用,给半导瓷的导电过程带来复杂的影响,如何在原材料的组分、配比、含量、纯度上合理控制,以求在半导瓷的制造过程中达到预期的性能,将在以后各节中,结合具体材料进行分析。

    2、化学计量比的偏移    前面已经指出由于半导瓷材料组分与严格的化学比相偏离,就产生了各种各样的缺陷,如金属原子或氧原子的空格点,填隙原子等,生成施主能级或受主能级,产品的化学计量比偏移的程度以及生成那一种缺陷,各种缺陷之间的比例既与原材料的性质有关,也与烧结温度、保温时间、烧结与冷却过程中的气氛情况等工艺条件有关,特别是冷却条件,对缺陷情况,产品性能影响很大,下面将结合具体材料、进行分析。

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