STM技术是一个原子水平上的材料分析工具

STM技术是一个原子水平上的材料分析工具
　　由于能够在纳米和原子量级上探测电流与力的双重性能，在过去的20年AFM促进了各种扫描探针显微镜(sanning probe microscope，SPM)技术的快速发展。诸如AFM、磁力显微镜技术、静电力显微镜技术、扫描电容显微镜技术、近场扫描光学显微镜技术等的出现，让使用者们能在纳米量级上研究材料的局域电子的、磁的、化学的、力学的、光学的与热学的性质。现已表明，SPM技术不仅可以成像，还能让使用者在纳米和原子量级上控制和修改局部结构和材料性能。于是，过去的20年SPM技术的利用得到高速增长，SPM技术被广泛应用于各个科学领域，从凝聚物理学、化学、材料学到医药和生物学。毫不夸张地说，纳米科技20年的高速发展得益于SPM技术的应用，同时也促进了新的SPM探测技术的发展。
　　STM技术是一个原子水平上的材料分析工具，它基于电子方法测量导电针尖与表面之间的隧道电流。它能描绘和分析原子或分子表面附近的电子本质特性。另外，它也可以操控单个原子或分子。因此，STM技术是第一代的原子或分子技术。然而，STM技术只能用于研究在某种程度上具有导电性的表面。另一方面，AFM则是唯一以机械手段研究绝缘体表面的原子水平上的检测工具。