粒度分布分析图像显微镜-激光衍射粒度分布

粒度分布分析图像显微镜-激光衍射粒度分布

    激光衍射装置　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　    近年来，出现了好几种基于对细颗粒进行激光衍射的装置。激光从稀释的悬浮颗粒中穿过，这些悬浮颗粒循环通过一个光学测定仪。光被悬浮颗粒分散后，用一个能测量一定角度内光强度的固态探测器进行测定。应用光散射原理可以从光分布结构中计算出颗粒粒度分布，细颗粒比粗颗粒的散射作用强。早期装置应用的是弗朗霍夫（Fraunhofer）理论，这个理论适于约1 ～2000μm 粒级范围，限制上限主要是受机械方面的约束。最近，运用米氏理论已经将可用粒度下限降到了0.1 μm ，甚至更低。一些现代化装置可提供这两种选择，或者将这两种理论结合到一起，以涵盖更宽的粒级。　　　　　　　　　　　　　　    激光衍射装置操作简单，分析结果得出快，有重现性。但是，光散射理论并没有给出和其他方法（如筛分法）兼容的对粒度的定义。比如在大多数选矿应用中，激光衍射粒度分布就总是比其他方法得出的粒度粗。奥斯汀和沙阿提出了一种方法，用于激光衍射法和筛分法得出的粒度曲线之间的转换，通过对特征一致的物料进行回归分析可以得出一个简单的转化。此外，这个结果还取决于固体颗粒和液体介质（虽然不一定，但通常是水）的相对折射率，甚至还和颗粒形状有关。大多数装置都要求能补偿这些效应，或者提供校准数据给用户。　　　　　　　　　　　　　　    因为这些原因，使用激光衍射粒度分析仪应该慎重。对于对固定环境中唯一改变的粒度分布做大批量的常规分析，这个设备大概没有同行。针对不同环境或不同物料，或与其他方法得到的数据进行比较时，解释数据时要谨慎。当然这些装置是不提供分级后的样品供后续分析的。