高分辨电镜应用-试样的厚度不可能精确测量

高分辨电镜应用-试样的厚度不可能精确测量

　　物镜欠焦斑的值和试样的厚度是两个可调节使之与图像的主要特征相适应的重要参数，欠焦斑的值可通过拍照TEM照片时试样的物镜电流的大小来估计，而试样的厚度不可能精确测量。要患得到质量高、衬度好的照片，试样的厚度通常要小于10一20nm。各种各样的软件包可用来图像模拟，且上述所有量在计算中都可方便地引入。非完整晶体和界面的图像计算
　　高分辨电镜最重要的应用之一是确定缺陷部位和晶界区域附近的原子结构。这是透射电镜独特的性质，无论是用X射线还是用中子衍射都无法做到。如前所述，由于亮斑或暗斑能否表征原子排列的投影取决于试样的厚度和透镜的欠焦，衬度的反转说明了在这种情况下确定缺陷附近的原子位置的复杂性。通过构造一个只包含一个缺陷的超晶胞宋完成图像的模拟，这个超晶胞应大得可隔绝由两个相邻缺陷产生的散射波间的相互作用，同时为了减少计算时间，晶胞也不能太大。