制造的器件中故障的测试检测工业显微镜

制造的器件中故障的测试检测工业显微镜
   通常来说，对于组合电路以及全扫描电路，为检测固定型故障的测试都是单向量测试。为单固定型故障的测试的生成方法已经被研究超过五十年并且广泛应用于产业中并成为测试套件的一部分。随着设计的特征尺寸的减小，应用针对新增故障模型的测试变得尤为重要。   不是所有这类制造的器件中的缺陷都能被知晓，它们可能数量众多而不能通过生成测试来确切进行锁定。例如，如果假设电路中的每一对节点都能够形成一个桥接缺陷，那么能够产生的桥接缺陷的总数量将会是非常庞大的。即使将与实际接近的条件赋予遭受桥接缺陷的节点对上，桥接型缺陷的数量也会很大。   一些缺陷会引起信号传播延迟的增加，例如电阻性开路、弱晶体管以及低阻桥。工艺参数的变化也会引起信号传播延迟高于标称值。增加信号传播延迟的事件被建模称为延迟故障。已经提出了几个延迟故障模型。在本章以及后续章节中，延迟故障会被广泛讨论。增加的信号传播延迟可能发生在一个逻辑门上或数个逻辑门上。